電子技術專用材料老化測試范圍包括半導體材料（如硅、鍺等）、電路模塊、連接器、電路板、電池、塑料、橡膠和其他相關材料。測試條件的標準條件包括高溫高濕（THH）、恒溫恒濕（RHR）、耐紫外線老化（UV）、機械沖擊試驗（SCH）、熱沖擊試驗（CTE）等。具體介紹如下：

1. 高溫高濕（THH）：測試條件為溫度60℃，相對濕度95%，試驗時間不少于1000小時。這種測試方法主要用于模擬高溫高濕環境下材料的老化過程，評估材料性能的變化。
2. 恒溫恒濕（RHR）：測試條件為溫度20℃±2℃，相對濕度RH50%±5%，試驗時間不少于168小時。這種方法可以模擬溫度和濕度同時變化的環境，用于評估材料的耐候性和機械性能。
3. 耐紫外線老化測試（UV）：主要測試材料在紫外線輻射下的性能變化，用于評估材料的耐候性。測試條件為室內人工光源與人工氣候環境相結合，模擬紫外線輻射和溫度變化同時作用的環境。
4. 機械沖擊試驗（SCH）：用于模擬材料在運輸和使用過程中可能遇到的各種沖擊和碰撞，評估材料結構的完整性。
5. 熱沖擊試驗（CTE）：用于測試材料在不同溫度下的熱脹冷縮性能，評估材料在不同溫度環境下的結構穩定性。

以上是對電子技術專用材料老化測試范圍及標準條件的簡要介紹。需要注意的是，不同的測試項目和標準條件適用于不同的材料和場景，需要根據具體情況進行選擇和設置。同時，為了保證測試結果的準確性和可靠性，需要嚴格控制測試環境和操作過程。